Descripción

En el laboratorio del grupo GCME se dispone de una gran variedad de equipos de medida y prueba con los que automatizar un importante número de técnicas de caracterización eléctrica y óptica de materiales y dispositivos semiconductores. Las técnicas han sido automatizadas mediante el software Agilent VEE y LabVIEW.

-    Mesa de puntas Cascade Microtech junto con microscopio Leica
-    Equipo de wire-bonding tpt HB05 junto con microscopio Leica
-    Tres criostatos de nitrógeno líquido Oxford Instruments junto con controladores de temperatura Oxford Instruments ITC502 e ITC503
-    Sistema de caracterización de semiconductores Keithley 4200-SC
-    Analizadores de impedancia Agilent 4294A (40 Hz -11 MHz) y Agilent 4287A (1 MHz - 3 GHz)
-    Analizador de parámetros en continua de semiconductores HP 4155B
-    Capacímetros a 1 MHz Boonton 72 B (Analógico) y HP 4280A (Digital)
-    Amplificadores Lock-In Stanford Research Systems SR844 y EG&G 5210
-    Osciloscopios digitales Tektronix TDS5052, HP 54615B y HP54501A
-    Generadores de señal Agilent 33500B y HP 33120ª
-    Generadores de pulsos HP 81104A y HP 8112ª
-    Electrómetros programables Keithley 6517A y Keithley 617
-    Analizador lógico HP 54620ª
-    Baño térmico

Otra Información